IAF CLiC(制御層情報連携意見交換会)がWebセミナー『産業IoTにおける簡単みえる化指標SMKL及びMBSE』（2020年8月24日(月)）を開催しました。

IAF CLiCがWebセミナー『産業IoTにおける簡単みえる化指標SMKL及びMBSE』を開催しました。

－記－

【日時】	２０２０年８月２４日(月)　１４時００分～１６時００分
【場所】	Webセミナー
【主催】	IAF CLiC（制御層情報連携意見交換会）
【講演】	講演１　「ＳＭＫＬの説明」　藤島　光城　三菱電機㈱講演２　「ＩＩＦＥＳデモシステム説明」　茅野　眞一郎　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　Edgecross IIoTエバンジェリスト講演３　「製造システムへのＭＢＳＥの活用を目指して」　米田　尚登　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ダッソー・システムズ㈱
【趣旨】	ＩＡＦ（※１）では産業用ＩｏＴにおけるＫＰＩ（※２）やＭＢＳＥ（※３）の活用で効率的で正確な事業経営を目指しています。特に今後の製造現場の"みえる化"や改善活動にはＩｏＴの導入が必要です。但し、何でもかんでもＩｏＴの導入を進めれば良いわけではなく、費用対効果を考えながら推進すべきです。そこで、生産性や品質、在庫、保全、環境などの重要業績評価指標であるＫＰＩ毎に、ＩｏＴのみえる化状況を４×４のマトリクスで簡単に評価できるＳＭＫＬ（※４）指標をご紹介します（講演１）。また、ＩｏＴシステムを素早く構築するために、既存の標準化技術（ＯＰＣ、ＰＬＣopen、ＦＤＴ等）やエッジコンピューティングを活用したデモの紹介（講演２）や、ＭＢＳＥを使い最初からＩｏＴ化を考えていく事も非常に重要であり、そのご紹介も併せて実施します（講演３）。 ※１　ＩＡＦ　： Industrial Automation Forum ※２　ＫＰＩ　： Key Performance Indicator ※３　ＭＢＳＥ： Model Based Systems Engineering ※４　ＳＭＫＬ： Smart Manufacturing Kaizen Leve ■資料の掲載 http://www.mstc.or.jp/iaf/event/webinar20200824/webinar20200824.html

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